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超聲波探傷儀校準(zhǔn)是必要的
超聲波探傷儀校準(zhǔn)是必要的
超聲波探傷儀是一種小型探傷設(shè)備,能夠有效檢測(cè)工件內(nèi)部缺陷,超聲波探傷過程中,為了在所規(guī)定的檢測(cè)范圍內(nèi)發(fā)現(xiàn)缺陷,并確定缺陷的位置,必須在檢測(cè)前對(duì)探傷儀進(jìn)行校準(zhǔn),調(diào)節(jié)儀器的掃描速度,掃描速度是指儀器示波屏?xí)r基掃描線的水平刻度值與實(shí)際聲程的比例關(guān)系,校準(zhǔn)準(zhǔn)確與否直接影響缺陷的定位。
超聲波探傷儀調(diào)節(jié)方法
*常用的檢測(cè)波形主要有縱波和橫波,超聲波探傷儀縱波調(diào)節(jié)方法采用聲程調(diào)節(jié)方法。橫波調(diào)節(jié)方法是聲程調(diào)節(jié),儀器根據(jù)輸入的參數(shù)自動(dòng)計(jì)算出缺陷的水平距離和深度距離,并在熒光屏上顯示。
超聲波探傷儀調(diào)節(jié)過程
超聲波探傷儀調(diào)節(jié)需要調(diào)節(jié)兩個(gè)地方,**個(gè)地方就是調(diào)節(jié)聲速,**個(gè)地方是調(diào)節(jié)零點(diǎn),把這兩種數(shù)據(jù)輸入就可以了。如果檢測(cè)不同板厚,可在儀器基本主菜單上的范圍子菜單內(nèi),調(diào)節(jié)相應(yīng)的檢測(cè)范圍。
數(shù)字化探傷儀校準(zhǔn)方法的介紹
數(shù)字化超聲波探傷儀的校準(zhǔn)取決于三個(gè)關(guān)鍵參數(shù),即探頭零點(diǎn)、探頭角度和材料聲速。 探頭零點(diǎn)是指探頭晶片與被測(cè)工件耦合面之間存在的聲程距離而造成的時(shí)間延遲。探頭角度通常指橫波探傷時(shí)探頭的折射角,根據(jù)折射角的度數(shù),儀器自動(dòng)計(jì)算出缺陷的水平距離和深度距離。材料聲速是超聲波在該材料中的傳播速度,與材料的彈性模量和材料的密度有關(guān),是表征材料聲學(xué)特性的重要參數(shù),波的類型不同,超聲波在該材料中所傳播的速度也不同。
零位校準(zhǔn)
當(dāng)超聲波通過保護(hù)膜、耦合劑(直探頭)或有機(jī)玻璃楔(斜探頭)進(jìn)入待測(cè)工件時(shí),在定位缺陷時(shí),需要去掉這個(gè)局部聲程,以獲得超聲波在工件中的實(shí)際聲程。零點(diǎn)通常由已知聲程的試塊來(lái)調(diào)節(jié),如CSK-IA試塊中的R100弧面(斜探頭)或深度為100mm的大平底(直探頭)。
K值校準(zhǔn)
由于斜探頭不僅要知道缺陷的聲波路徑,還要得到缺陷的直線和水平方位,所以斜探頭要準(zhǔn)確測(cè)量其K值(折射角),才能準(zhǔn)確定位缺陷。k值通常由具有已知深度的孔的試塊決定,例如CSK-1a試塊50或1.5的孔。
定量校準(zhǔn)
AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)通常用于定量調(diào)節(jié)。
超聲波探傷儀比其他探傷儀具有更高的分辨率和清晰度。超聲波探傷儀比其他探傷儀對(duì)同一物體的檢測(cè)更高,能保證被檢測(cè)物體的細(xì)節(jié)和微小缺陷都能被捕捉到。與其他探傷儀相比,超聲波探傷儀在精度上明顯優(yōu)越。
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